SBT590M/
トライポッド・ポリッシャー特長
SEM、TEM観察標本を精密・効率よく作製するために
設計、開発された研磨ジグ
- 断面観察したい微小部位を正確に面出しできます
- 光顕あるいはSEMで断面観察した試料部位そのものを1μ以下にまで
研磨・薄片化でき、TEM観察標本を簡単に作製
- TEM観察標本作製のイオンシニング時間を15分以下と大幅短縮
- ウェッジ研磨法によりディンプル研磨を省略
- 研磨、薄片化工程中に生じる片べりを修正
ウェッジ研磨
ウェッジ研磨の際には、サンプル先端全体がTEM観察部位となりますので、広範囲の観察ができます。