■ Sample1  石英ナノインプリント
         
                         
  石英のようなクラックの生じやすいサンプルも切断できます。
300μm角までの極小デバイス目的の切断の経験を有します。
お求めの切断精度によっては、スラリーを用いた切断も可能です。
 
Cut Scene
  Cut After      
       
                         
 ■ Sample2  マグネシウム
         
                         
  複雑な形状を持ったサンプルもしっかりWAX固定でき精密切断可能です。
上記写真はマグネシウム母材にポリマー膜のある曲がった形状の切断例です。
表層に存在した100μm程度の異物の断面解析を目的として切断した経験を有します。
  Cut Scene   Cut Before Zoom    
     
                         
 ■ Sample3  IC基盤
         
                         
  不具合解析の際などにチップ部分を破損せず、深い傷なく切断できます。
従来発生しやすかった切断によるダメージなのか、本来存在していた不具合なのか、判断できない、という問題点を
ソリューションします。
  Cut Scene                
         
                         
 ■ Sample4  三宅島火山岩
         
                         
  物理的な力によって粉状に壊れやすく、また水による変性のある火山岩でも、乾式かつ空隙を保持したまま切断する
ことができます。
  Cut Scene     Cut After   Zoom    
     
                         
                         
  ダイヤモンドワイヤーソーの特長            
                         
     

■ 電子基盤の断面評価に効果を発揮
  シリコン・エポキシ樹脂・銅配線・BGAなどの複合素材をダメージなく切断することができます。
  シリコン・サファイアも亀裂なく切断できます。


■ 研磨工程も劇的に短縮
  切断機の面の傷が浅いため、研磨は1000番程度から研磨開始できます。
  素材によっては切断後、研磨なしで薬品処理のみで厚み評価可能です。


■ クロスセクションポリッシャーの前処理として
  ご希望の顕微鏡を搭載し、精密アライメントすることができます。
   ターゲットを傷つけずに、ターゲット付近を切断することが可能です。


■ ダイシングソーでも対応できないほどの極小サンプルを作製
  サンプルを切断時に紛失せずに300μm角までの極小ダイス状カットの実績があります。

■ 固定の難しい不定形のサンプル、細孔性サンプルも精密切断
   吸着式やバイス式、クラプ式では固定しにくいサンプルもしっかりWAX固定でき、精密切断できます。

■ ドライカットも可能
  切断に水を使わなくてもよいので、EDXなどの分析の前処理として最適です。
   水和しやすいサンプルの切断に適しています。


■ マルチワイヤーソーのテスト装置としても活躍
  ラボレベルのシングルワイヤーソーはメンテナンスもほとんど必要ありません。
   サンプルホルダーやワイヤードラムはモジュールタイプなのでウエハー種、ワイヤー種、スラリー種、
   クーラント種、線速などの条件策定が可能です。
   いままで困難であったマルチワイヤーソー用の条件策定によって、コスト削減を検討できます。

                         
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