材料の性質を特定するためには、微細構造の観察だけでは不十分な場合が多く、XEDSやEELSなどの分析手法と組合せて特定を行なうことが多くありますが、局所的な組成を知るためにフォーカスされたプローブを用います。これらの場合、有機系不純物層が試料表面に形成され、それが試料の分析箇所を覆い隠すために思うように分析が行えなかったり、微少定量分析の結果に大きな影響を受けたりします。
紫外線照射や加熱、冷却などにより、コンタミネーションを多少減少させることはできますが、これらの方法は、析出する不純物の源を直接クリーニングするものではありませんでした。
そこで、PC-2000では、半導体分野でウエハーやバルク材料をクリーニングする際に使われていた、低エネルギープラズマで反応的にエッチングを行なう手法を、電子顕微鏡用試料クリーニングとして採用しました。
PC-2000 プラズマクリーナーは、リアクティブガスを用いたプラズマ放電により、試料と試料ホルダーを同時にクリーニングすることで、無機材料などのSEM,TEM,STEM,及びAEMを用いた分析電子顕微鏡用サンプルからコンタミネーションを除去したり、減少させることができ、広範囲のコンタミネーションを効果的に除去します。 |