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| ビデオキャプチャーシステムでカンチレバーの位置情報を把握できます。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| スキャンヘッドはデュアルビデオカメラが搭載され、試料真上と斜め方向からモニターしながら自動アプローチ範囲まで接近が可能ですので、カンチレバーのクラッシュはありません。 試料の正確な測定位置もリアルタイムにモニター可能です。 |
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| レーザーアライメント不用のカンチレバー交換 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| カンチレバーの交換は非常に容易です。 カンチレバー交換後のレーザーのアライメントの必要はありません。 |
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| Applications | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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・Surface roughness ・Hardness measurement ・Corrosion ・Surface tension ・Surface inspection |
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Silica Beads |
Carbom Nanotubes |
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| Silicon wafer - a semiconductor sample | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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The image shows steps on (111) oriented silicon wafer. The measurement was done in "Dynamic Force" operating mode. |
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| 10×10μm image, z-range:38.8nm | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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