OSP有機酸化保護膜 測定特化モデル Top Features 非破壊によるOSP膜厚測定 サンプル前処理が不要 Cu基板上のOSPコーティング 粗表面測定 オートフォーカス機能 3D等厚線解析 世界唯一 LCD 4マスク・プロセス 微細測定パターン測定可能 測定膜厚範囲35nm～3μm 測定エリア864 x 648mm

ST4080-OSPは、装置開発メーカーである韓国K-MAC社が世界的にも信頼されている同社の半導体、FPD、電子部品業界向けに開発された膜厚計のノウハウを凝縮し、PCB基板上のOSP（Organic Solderability Preservative）膜厚に特化した測定を実現するため、設計されたモデルです。本装置は非破壊・非接触の特徴を活用する事で、サンプルの前処理を施さなくても、基板上の平均的な膜厚や、詳細な3D表面プロファイル情報のリアルタイム測定を可能にし、微小スポットサイズ、オートフォーカス機能等、様々な機能を盛り込んだPCB基板上の本来のパターン測定に最適なモデルです。